近幾年來，隨著信息技術(shù)的飛速發(fā)展，基于計(jì)算機(jī)和微處理器的用電設(shè)備和各種電力電子設(shè)備等，敏感負(fù)荷在電力系統(tǒng)負(fù)荷中所占比例大幅增加，它們對(duì)電能質(zhì)量監(jiān)測(cè)裝置的要求，較一般用電設(shè)備更加苛刻，因而電壓凹陷，已經(jīng)成為影響用電設(shè)備穩(wěn)定運(yùn)行的重要電能質(zhì)量監(jiān)測(cè)問題之一。

電壓凹陷是指供電電壓有效值，在短時(shí)間內(nèi)突然下降到 0.1~0.9 pu，持續(xù)時(shí)間一般為半個(gè)周期到幾秒鐘之間，其主要特點(diǎn)為電壓有效值的大幅度下降。 短路故障、大型敏感電機(jī)起動(dòng)、雷擊是導(dǎo)致電壓凹陷的三大原因?？焖?、準(zhǔn)確檢測(cè)電壓凹陷是補(bǔ)償研究重點(diǎn)之一，現(xiàn)有的凹陷檢測(cè)方法有缺損電壓法、有效值計(jì)算方法、瞬時(shí)電壓dq變換方法等。

這些方法有效值、峰值、基波計(jì)算法的實(shí)時(shí)性較差，且得不到電壓相位， 基于dq變換的方法雖然能檢測(cè)單相電壓的特征量，但仍需要60°的延時(shí) 。現(xiàn)代電力網(wǎng)絡(luò)經(jīng)常受到電壓尖峰和下垂的干擾。超過90％的電能質(zhì)量監(jiān)測(cè)事件可以追溯到持續(xù)時(shí)間短（小于1秒）的電壓事件。雖然這種下垂經(jīng)常未被發(fā)現(xiàn)，但它會(huì)導(dǎo)致關(guān)鍵過程操作中的直接生產(chǎn)損失。

受電壓驟降影響的關(guān)鍵過程操作包括：半導(dǎo)體制造；PLC控制自動(dòng)化機(jī)器人；化學(xué)和石油工藝生產(chǎn)；乳制品，食品和飲料生產(chǎn)。電壓驟降的根本原因源于在公用事業(yè)高壓電力線上，發(fā)生雷擊浪涌期間的浪涌保護(hù)裝置操作。在SPD放電功能期間產(chǎn)生瞬時(shí)線對(duì)地短路，這導(dǎo)致線電壓突然下降。事件持續(xù)時(shí)間短暫，但對(duì)依賴于穩(wěn)定電壓的許多關(guān)鍵過程操作提出了挑戰(zhàn)。